İçerik üreticisi Tim Pan, merakla beklenen katlanabilir iPhone Duo modelinin uzun vadeli kullanım performansını ölçmek amacıyla kapsamlı bir dayanıklılık testi gerçekleştirdi. Cihazı tam 10.000 kez katlayarak ekranın fiziksel direncini ölçen Pan, testin sonucunda cihazın tam orta kısmında gözle görülür bir katlanma izi oluştuğunu ortaya koydu.
Yapılan bu ekstrem test, katlanabilir ekran teknolojisinin en büyük handikaplarından biri olan “ekran izi” sorununa dikkat çekiyor. Henüz resmi bir lansmanı bulunmayan model üzerindeki bu tür kullanıcı testleri, teknoloji dünyasında katlanabilir cihazların geleceğine dair tartışmaları yeniden alevlendirdi.
YORUMLAR (0)
Henüz yorum yapılmamış. İlk yorumu sen yap!